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波长色散型X射线荧光光谱仪岛津波散型XRF 适用于膜厚测定、薄膜测定
岛津波散型XRFXRF-1800型适用于膜厚测定、薄膜测定项目,参考多项行业标准。可以检测钢板涂层、薄膜等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 彩色涂层钢板的测定实例;电容器薄膜的测定实例 仪器
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安东帕 CAT²c/i涂层测厚仪 膜厚测量
的长度后,涂层的厚度D可以通过简单的几何公式计算得出。 膜厚及磨损测试仪Calowear将这个原理更加深了一步。通过监测球体施加在试样上的载荷,我们可以更好的控制薄膜的磨损。研磨液以恒定速率自动滴加在
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波散型XRF波长色散型X射线荧光光谱仪XRF-1800型 使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例
岛津波散型XRFXRF-1800型用于测定钢板涂层、薄膜,符合行业标准。适用膜厚测定、薄膜测定项目。 彩色涂层钢板的测定实例;电容器薄膜的测定实例 250μm微区分布成像分析功能!XRF-1500
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CrossLab 多厂商仪器服务
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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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CrossLab 多厂商仪器服务安捷伦 样本
点击查看下载CrossLab 多厂商仪器服务安捷伦 样本相关资料,进一步了解产品。 安捷伦确认服务主要包括两个基本文档:设备确认计划 (EQP) 和设备确认报告 (EQR)。这两个安全的电子文档可
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CrossLab 多厂商法规认证服务
通过安捷伦 Crosslab 多厂商仪器服务,无论您使用哪个品牌的仪器,都可以使实验室中所有色谱与光谱系统得到统一优质的维修,保养,法规认证和搬迁服务。
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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量半导体膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量汽车车灯膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量太阳能膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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